轮廓膜厚仪XP-100

主要指标

Max. Scan Length最大扫描长度 : 30mm (linear)         0.38？ 
?  Max. Data Points最大扫描数据点 : 120,000             ?  Vertical Range垂直范围 :800μm max. 
?  Stylus Force探针力: 0.03-10mg (programmable)      ? 30 +Analytical Functions and height histogram 
?  Stylus Tip Radius针尖 2 microns standard                 30多种分析功能与高度直方图 
?  Color Camera 彩色图像                           ?５？ Repeatability : guaranteed 
?Sample Stage : 140mm Dia                        ５？ 重复性 
样品台大小:直径 140mm                        ?

主要功能

XP-100轮廓膜厚分析仪用于薄膜厚度、表面粗糙度、薄膜应力等性能的精确测量，是薄膜材料测试分析的重要工具